冷热冲击试验箱适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，也同时是通过此装备进行试验,同时也可以提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

　　从其性能特点上进行分析冷热冲击试验箱两箱式与三箱式

　　两箱式：

　　1、将样品快速的放入预先降温的低温室或预先加热的高温室,因此这样会使得变温速度快;

　　2、结构紧凑,体积小;

　　3、该试验箱既可作热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用;

　　三箱式：

　　1、样品快速放入预先降温的低温室或预先加热的高温室，因此变温速度快;

　　2、有室温箱,方便试验,方便取放试样;

　　3、该试验箱既可作热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用,三箱式动态温度冲击试验箱。经对比,三箱式冷热冲击试验箱是两箱式的改良和技术更新。三箱式动态温度冲击试验箱会由于高温室、低温室、室温室和在这两个室中移动的测试样品提篮及制冷系统、加热系统和控制系统等组成。

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